RT809H Обнаружение поврежденных блоков

[Gaborxx]

Здравствуйте!

Хочу сообщить о крайне странной ситуации при работе с NAND Flash H27U1G8F2CTR и программатором RT809H.

Используемая версия ПО:
**RT809H Programmer 20250423**

Телевизор LG 42LA6130 (Main: EAX64891306 / EBT62391016) полностью работал. Целью было только считать содержимое оригинальной NAND и перенести его в новую микросхему.

Последовательность действий была следующая:

1. Микросхема H27U1G8F2CTR была выпаяна с рабочей платы.
2. Установлена в TSOP48 адаптер RT809H.
3. Программатор корректно определил микросхему (ID = AD F1).
4. В качестве первой операции была выполнена **Bad Block Detection**.
5. После этого выполнено чтение NAND.

Результат оказался неожиданным:

* чтение проходит без ошибок;
* Verify проходит успешно;
* размер дампа правильный (RAW + OOB);
* **но весь дамп состоит только из FF**.

Для проверки эта же микросхема была прочитана программатором XGECU T48.

Результат полностью совпал:

* микросхема определяется правильно;
* чтение выполняется успешно;
* весь дамп также состоит только из FF.

Дополнительно дампы RT809H и T48 были побайтно сравнены — они полностью идентичны и содержат только FF.

Самое интересное, что ранее у меня уже был практически такой же случай с платой LG/Philips: после выполнения **Bad Block Detection** оригинальная NAND также стала читаться как полностью пустая.

Я **не утверждаю**, что именно функция Bad Block Detection стирает NAND, но уже второй раз наблюдаю одинаковую последовательность событий.

Хотелось бы узнать:

* сталкивался ли кто-нибудь ещё с подобной проблемой?
* воспроизводится ли это на других версиях ПО RT809H?
* известно ли разработчикам о такой ситуации?

Буду благодарен за любую информацию.

[Hermes]

В качестве первой операции была выполнена **Bad Block Detection**.

Во время этой операции RT809 стирает NAND.  Это его особенность.

[Gaborxx]

Дополнение к моему предыдущему сообщению.

Провёл ещё один эксперимент с RT809H, на этот раз с NAND Samsung K9GAG08U0E.

После записи NAND я выполнил функцию Bad Block Detect. Были обнаружены те же физические bad-блоки, которые присутствовали до записи. После этого выполнил Verify — записанные данные остались на месте, содержимое NAND не было стёрто.

Таким образом, на K9GAG08U0E функция Bad Block Detect оказалась недеструктивной.

Это интересное отличие от моего предыдущего случая с H27U1G8F2CTR, где после выполнения Bad Block Detect оригинальная NAND стала полностью читаться как FF. Причём после этого не только RT809H, но и XGECU T48 считывал с микросхемы только FF.

Поэтому теперь я ещё больше склоняюсь к тому, что проблема может быть связана не с самой функцией Bad Block Detect в целом, а с конкретным алгоритмом RT809H для определённых типов NAND.

Получается:

H27U1G8F2CTR → Bad Block Detect → NAND полностью FF

K9GAG08U0E → Bad Block Detect → данные сохранились, Verify проходит

В обоих случаях использовался тот же программатор RT809H.

Возможно, эта информация будет полезна разработчикам для проверки алгоритма работы с H27U1G8F2CTR.

[Hermes]

После записи NAND я выполнил функцию Bad Block Detect. Были обнаружены те же физические bad-блоки, которые присутствовали до записи. После этого выполнил Verify — записанные данные остались на месте, содержимое NAND не было стёрто.

Отключи программатор, закрой программу, потом опять подключи программатор и запусти программу, и проверь.  Он не стал второй раз стирать её, потому что уже стирал перед записью.  Программатор понимает, что это та же самая микросхема. 

Если я  не ошибаюсь, там в настройках можно отключить стирание при проверке ВВ.

Программатор стирает микросхему, потому что в некоторых случаях,  когда у страницы не стандартная разметка,  не возможно правильно определить количество ВВ  до тех пор пока не сотрёшь микросхему.